خرید pdf کتاب High-level Estimation and Exploration of Reliability for Multi-Processor System-on-Chip :

[ad_1]

این کتاب یک چارچوب جدید را برای مدل سازی دقیق خطاها در فناوری CMOS در مقیاس نانو و توسعه جریان نرم ابزارها در انتزاعات طراحی سطح بالا برای تخمین و کاهش اثرات خطاها معرفی می کند. این کتاب تکنیک های جدیدی را برای شبیه سازی عیب و تخمین قابلیت اطمینان سطح بالا و همچنین طرح های متحمل خطا در سطح معماری و سیستم ارائه می دهد. همچنین یک مرور کلی از آخرین مشکلات و راه حل ها ارائه می دهد و بینشی در مورد مشکلات قابلیت اطمینان در طراحی دیجیتال و اقدامات متقابل آنها در بین لایه ها را فراهم می کند.

[ad_2]

خرید کتاب High-level Estimation and Exploration of Reliability for Multi-Processor System-on-Chip :