خرید pdf کتاب Secondary Ion Mass Spectroscopy of Solid Surfaces

[ad_1]

این حجم به روشهای فیزیکی ، ابزاری و تحلیلی طیف سنجی جرمی یون ثانویه (SIMS) در رابطه با سطوح جامد اختصاص یافته است. این مدل های مدرن تشکیل یون ثانویه و عواملی را که بر حساسیت اندازه گیری ها و دامنه کاربرد آنها تأثیر می گذارد ، توصیف می کند. تمام قسمتهای اصلی ابزارهای SIMS به طور مفصل بحث شده است. این کتاب بر کاربردهای عملی تأکید دارد و همچنین روش ها و روش های تحلیلی را برای تجزیه و تحلیل مواد جامد – از جمله فلزات ، نیمه هادی ها ، نمونه های آلی و بیولوژیکی در نظر می گیرد. روشهایی برای پروفایل عمق ، تجزیه و تحلیل چند بعدی فضایی و بررسی فرآیندهای سطح مانند جذب ، تجزیه و تحلیل و اکسیداسیون همراه با کاربرد SIMS در ترکیب با سایر روشهای تجزیه و تحلیل سطح ارائه شده است.

[ad_2]

خرید کتاب Secondary Ion Mass Spectroscopy of Solid Surfaces